针对于BTB\/FpC母座connector测试,目前绝大部分的企业、厂商采用轻触方案来临时应对;使用pogo pin的厂商测试母座时,只能接触连接器端子顶点最高位置,接触区域面积小,接触方式为点对点,相对弹片接触面小,易磨损及使用次数到一定的寿命后易接触不良,导致误测等现象。
pogopin是由弹簧、针管、针轴三个基本部件预压之后形成的弹簧式探针;它本身由几个部件制作、装配、涂装而成,工艺程序复杂,但使用寿命依然不高;因为pogopin本身存在的一些问题,在实际操作针对BTB母座connector测试时,我们了解到一些厂商的实际情况:
1.测试不稳定,pogopin本身是多配件结构,接触点多,易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题;
2.测试时探针经常性扎歪,然后需要人员重新进行探针调整,浪费了大量的时间和人工成本;
3.卡pIN:同样因为由多结构组合而成,这个在pogopin身上是避免不了的问题;
4.极易断针:随着pitch的缩小,pogo的针径也越来越小,使得探针的断针风险逐渐增加;
5.使用寿命很短:探针的使用寿命均在30000次以下,并容易磨损,使用次数到一定的寿命后易导致接触不良、误测等现象;
以上情况相对出现率较高,针对以上的情况,自然导致企业成本的增加,测试稳定性差,良品率低等问题。
针对以上使用pogo测试BTB母座connector,我们凯智通微电子自主创新的大电流弹片微针模组(blade block)就很好的解决了以上的问题,下面简单介绍几个方面:
1.弹片微针模组有一体成型,后期加硬镀金处理,接触形状(可定制化)很容易按照客户要求制作;弹片为一体化结构,减少了接触点,避免产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题;
2.在测试母座时,弹片头部插入连接器内端子,使其产生一定的张开量,这样可以保证弹片接触面与BTB连接器端子两面一直保持接触状态;测试公座时,锯齿型弹片大面积充分和连接器接触点接触,保证测试稳定;
3.电流传导于同一材料体内,电阻恒定,几乎没有电流衰减,具有更好的连接功能,额定电流为3A;
4.由于一体成型,完全不会出现卡pin现象,并且使用寿命能达到30万次以上;
5.测试母座时,定制的斜口性弹片的头部插入BTB连接器内弹片开口之间,对BTB连接器弹片产生一定的张开量,微针模组弹片接触面与BTB连接器弹片两面一直保持接触状态,微针模组弹片头型自清洁设计免维护保证长期稳定性;
6.一体式设计,精准度高,完全不会出现扎歪的问题;
7.大电流BTB弹片微针模组的测试良率能达到99.5%;
8.能更好的应对pitch≤0.2mm的领域;
9.使用弹片微针模组(blade block)在同一模组,测试前和测试20次后,连接器上基本看不到任何扎痕;
针对市场上,企业使用pogopin一系列的问题,我们自主创新的大电流弹片微针模组(blade block)的解决方案能更好的应对,帮助企业节省成本。
相较于目前市场上的痛点,KZT凯智通微电子自主研发的大电流弹片微针模组(blade block),一体成型的弹片杜绝了卡pin、连接稳定性差、断针,接触形状可定制化避免了产生接触不稳定、阻抗一致性低,能应对pitch≤0.2mm、测试效率高、稳定性高、能兼容小pitch BTB公母座稳定且可靠、能承受最大50A大电流、使用寿命更长、快速出样、订货周期短等优点。
基于以上的优势,在母座板对板连接器(母座BTB connector)测试中,大电流弹片微针模组具有非常优秀的解决方案,我们KZT凯智通微电子欢迎各大企业、厂商前来咨询、了解、合作。
网友:胡牡皋:或是金色甲铠。网友:杨亿乘:见是表少爷殴打王管家,旁边还立着萧家第一家丁林三,便都站的远远的看热闹。
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